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某工厂芯片测试案例SPHE8202L-F3-OK2故障器件测试报告
测试时间:2012-03-29 测试结果:失败
测试元件型号:SPHE8202L-F3-OK2
测试设备:英国ABI-AT192
Test Summary
Device: | SPHE8202 |
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Package: | QFP128 |
Scan Profile: | Low V Digital |
Overall Result: | FAIL |
Operator: | Administrator |
Report Date: | 29 March 2012 |
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