英国ABI-3450电路板故障检测仪

 

 

产品组成：

 

1.软件配置：

1）具有测试流程记忆功能（软件具有强大的测试流程编辑和记录功能）

2）记录多种测试信息。软件可将标准电路板上测量到的V-I-F、V-I和V-T曲线图都存储记录到测试程序中，方便随时与其他电路板进行对比，大大简化了测试中需要重复对比的工作。

3）软件在测试流程中允许用户根据需要加入对测试步骤的文字说明、照片、Office Word、Office Excel、PDF文档、网页链接、视频等，大大提升了测试效率。

4）中文、英文测试操作软件，提供软件的升级服务；

 

2.硬件配置：

1）单个模块具有64通道数字V-I动态阻抗测试，最大可扩充到2048通道。

2）具有64路测试V-I-F和V-I测试通道，4路探棒测试，4组同步脉冲。具备变频三维立体V-I-F测量方式，三维立体显示器件的端口特性曲线。可以查找与器件频率有关的故障。三维画面与二维画面可以相互切换，可在二维图面上显示曲线各点的电气参数值(V/I)：电压、电流具体数值。扩充到2048路V-I-F测试通道。

3）系统可对多种器件进行端口测试： V-I、V-T、V-I-F、V-T-F测试。二维V-I测试低达1Hz频率，测试频率高达10kHz, 非常合适测试电感及高频电容器件。可设定同步脉冲信号的幅值与宽度, 进行可控硅元器件或FET的功能测试。

特点:

三维立体V-I-F曲线测试仪
变频扫描V-I-F曲线测试仪
5U机箱可配5个ABI-3400三维立体V-I-F阻抗测试模块

 

 

静态诊断电路板, 不必外加电源即可进行测试。
检测电路板上受损器件。
可检测出具有泄漏型故障的器件。
可检测出不相同的器件。
将损坏风险降。
具多通道测试（64通道）, 可减少测试时间。

 

ABI-3450三维立体V-I-F动态阻抗分析仪

 

可在静态条件下分析器件及整板测试采用测试方法,测量电气信号曲线, 侦测错误/瑕疵问题, 包含内部损坏器件与不一致器件- 增加问题检测范围, 同时, 减少测试时间!

 

何谓V/I曲线测试?

 

对于模拟及数字电路板,V/I曲线测试是成熟、可靠的解决方案。
透过一个限流电阻器, 施加AC电压到一个测试点时, 测量因此产生之电流, 并将结果绘制成一个电压/电流图形, 即显示该测试点的特性曲线。

 

分析V/I曲线,通常是与一参考点作比较,而检测如下问题:

 

漏电流器件。
内部受损器件。
错误数值的器件。
不一致的器件。
短路与开路。

 

变频扫描方式---增加问题查找范围!

 

ABI-3400模块, 通过改变V/I信号的AC电压的频率, 而增加问题检测范围, 其产生的曲线, 绘制在一个3D窗口内, 能让使用者观察到频率范围上的V/I曲线变化, 进而找到标准V/I分析方法看不见的问题。

 

 

矩阵式扫描V/I----- 增加问题查找范围!

 

ABI-3400模块也可使用矩阵式扫描获得V/I曲线, 而增加问题检测范围。在这个模式时, ABI-3400模块是在参考其它有效管脚(不同于标准V/I测试中只有一个参考管脚)的情形下, 获得一个器件或电路板每个管脚的V/I曲线。如此,便能产生丰富的数据组(一个20脚器件400条曲线), 足以检测出不易查找的故障。

 

 

静态测试=安全测试!

 

被测电路板是在静态测试下撷取曲线, 这降低了器件在测试当中受损的机率, 容许半熟练的操作人员执行初步测试。更重要的是,即使是”闲置”的电路板, 也能作测试诊断!

 

多通道=更快速的测试!

 

ABI-3400模块配备64个测试信道(可扩充), 可测试大规模器件、甚至电路板的曲线(例如, 透过一个转接连接头), 这可大幅减少测试所需时间，快速诊断多种电路板，而无须检查每个管脚。

 

测试功能

 

ABI-3400模块提供多种形式的V/I曲线测试及可设定的参数, 可扩大其应用范围及增加测试范围, 包括:
变频扫描进行V/I曲线测试。
设定频率进行扫描的V/I曲线测试。
矩阵式扫描进行V/I测试。
脉冲输出进行的动态V/I测试。