AT256 A4集成电路测试仪

 

英国abi_AT256 A4集成电路测试仪通道配置：

 

二维集成电路V-I动态阻抗端口测试通道：256路
二维电路板V-I动态阻抗端口测试通道：64/128/192/256路（可扩充至2048路）
三维扫频V-I-F动态阻抗端口测试通道：64/128/192/256路（可扩充至2048路）

 

功能用途：

 

1）集成电路的来料质量控制检测与筛选、一致性检测；
2）快速筛选假冒、仿制集成电路及元器件；
3）对不良器件进行三维动态阻抗失效分析；
4）非加电条件下对集成电路、电路板进行端口动态阻抗测试分析；
5）快速准确定位失效集成电路故障管脚，高效查找故障电路板的失效I/O管脚；
6）测试安全可靠，解决器件工艺、电路板工艺问题，快速解决集成电路及电路板故障点定位问题；
7）进行集成电路和电路板阻抗一致性检测；
8）配合测控平台软件，实现集成电路、电路板定制化和自定义编程测试。

 

技术规格：

 

1）256路二维集成电路V-I端口动态阻抗测试通道；
2）64/128/192/256路二维电路板V-I端口动态阻抗测试通道；
3）64/128/192/256路V-I-F三维立体动态阻抗测试通道；
4）4路探笔测试，4路V-T/V-T-F测试通道；
5）显示图形模式:V-I, V-T, V-I-F, V-T-F；
6）可定制多种封装通用集成电路测试治具；
7）可定制多种电路板I/O接口测试治具；
8）系统提供测试自定义报告输出；中英文测试操作软件；
9）设备可以64通道为步进扩充到2048组测试通道。

 

英国abi_AT256 A4集成电路测试仪测试原理(V-I曲线测试)：

 

对元器件的每个管脚施加一个安全的低功率的扫描驱动信号，产生一个阻抗特征图，以备对比和存储。
被测器件和数据库中标准动态阻抗图相比对，阻抗图的差异大小即可判断元件的好坏和可用性。
测试信号可设定的参数包括: 电压、波形、源电阻、频率。可根据需要进行调整以便得到准确的信息。

 

集成电路测试操作如此简单:

 

1.从数据库选择要测试的集成电路型号.
2.将集成电路插入测试座.
3.执行测试
4.得到PASS或FAIL的测试结果.

 

商品输入检验

 

不需要电子专业知识.
适用于集成电路/封装件.及多种类型电路板
灵活、好安装、宜操作.
测试结果直接: PASS或FAIL.
软件可设定多种测试条件.
可提供元件测试分析报告.

适合不同封装形式的元件:

 

-双列插脚(DIL)
-小型封装集成集成电路(SOIC)
-小型封装(SSOP, TSOP)
-塑料无引线芯片载体封装(PLCC)
-四方扁平封装(TQFP, PQFP, LQFP)
-球门阵列封装(BGA)
注意: AT256 A4不受限于只能测试电子集成电路, 也可用于各个电路板卡。

三维立体V-I-F动态阻抗端口测试

 

 

AT256 A4 pro2测试报告