英国ABI-JTAGMaster边界扫描测试仪

    JTAGMaster边界扫描测试是可编程逻辑器件（pld）配置和诊断的完全集成解决方案。
    一种边界扫描测试仪，可各个观察单个管脚，从而确定其功能。此信息可以保存在可自定义的测试过程中，该过程还可以包括图片和数据表。EXTEST模式也可用于手动更改管脚的状态并跟踪对链中其他设备的影响。扫描检查是一个多许可证软件，可以在多个站点上运行边界扫描检查。
    一种编程接口，用于处理工业标准JAM STAPL文件（标准测试和编程语言）和SVF文件（串行矢量格式），以便向设备发送编程指令和测试功能。ABI使用JTAG标准（联合测试行动组，与IEEE1149.1兼容），兼容IC之间的兼容性。
    JTAGMaster还能够使用外部适配器对EEPROM器件进行编程。 支持标准brinary文件，也可以在设备缓冲区窗口中对其进行修改。 库中存在多种EEPROM器件，用户可以轻松对其进行修改。
    JTAGMaster支持以下协议：串行外设接口（SPI）；集成电路间（I2C）；微线（μwire）。