产品中心
电路板故障检测产品 BM8600电路板故障诊断工作站 BM8500电路板故障诊断工作站 BM8400电路板故障检测仪 BM8300电路板故障诊断系统 BM8200电路板故障检测仪 ABI-6500电路板故障检测仪 ABI-6400电路板故障检测仪 ABI-3400三维立体阻抗分析仪 ABI-3200电路板故障检测仪 ABI-2500电路板故障检测仪 ABI-2400电路板故障检测仪 ABI-6350八合一多功能仪表 ABI-4400矩阵开关 ABI-1200可编程电源 集成电路检测产品 AT256多品种集成电路测试仪 AT256A4集成电路测试仪 AT256A4PRO2集成电路测试仪 AT256A4PRO4集成电路测试仪 SWA512集成电路测试仪 SWA1024集成电路测试仪 SWA2048集成电路测试仪 LinearMaster集成电路测试仪 ChipMaster集成电路测试仪 电路板反求系统 RE2048电路板反求系统 RE1024电路板反求系统 RE256电路板反求系统 边界扫描测试仪 JTAGMaster边界扫描测试仪您所在的位置:首页 > 测试案例 > 某研究中心测试案例-LM124J故障器件测试报告
某研究中心测试案例-LM124J故障器件测试报告
Test Summary
Device: | LM124J |
---|---|
Package: | 14 pin DIL narrow |
Scan Profile: | Low V Analogue |
Overall Result: | FAIL |
Operator: | Administrator |
Report Date: | 20 March 2012 |
Pin Summary | |||||||||||||||||||||||||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
Detailed Pin Analysis | |
---|---|
Pin 1: SUCCESS |
Pin 2: SUCCESS |
Pin 4: SUCCESS |
Pin 5: SUCCESS |
Pin 6: SUCCESS |
Pin 7: SUCCESS |
Pin 9: SUCCESS |
Pin 10: SUCCESS |
Pin 11: SUCCESS |
Pin 12: SUCCESS |
Pin 13: SUCCESS |
Pin 14: SUCCESS |
Pin 3: FAIL |
Pin 8: FAIL |