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某研究中心测试案例-LM124J故障器件测试报告
Test Summary
Device: | LM124J |
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Package: | 14 pin DIL narrow |
Scan Profile: | Low V Analogue |
Overall Result: | FAIL |
Operator: | Administrator |
Report Date: | 20 March 2012 |
Pin Summary | |||||||||||||||||||||||||||||||||
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Detailed Pin Analysis | |
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Pin 1: SUCCESS ![]() |
Pin 2: SUCCESS ![]() |
Pin 4: SUCCESS ![]() |
Pin 5: SUCCESS ![]() |
Pin 6: SUCCESS ![]() |
Pin 7: SUCCESS ![]() |
Pin 9: SUCCESS ![]() |
Pin 10: SUCCESS ![]() |
Pin 11: SUCCESS ![]() |
Pin 12: SUCCESS ![]() |
Pin 13: SUCCESS ![]() |
Pin 14: SUCCESS ![]() |
Pin 3: FAIL ![]() |
Pin 8: FAIL ![]() |