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某厂计量处失效元件-CD54HC14F3A测试报告
AT256 - Chip Report
Test Summary
| Device: | 008 |
|---|---|
| Package: | 14 pin DIL narrow |
| Scan Profile: | Low V Digital |
| Overall Result: | FAIL |
| Operator: | Administrator |
| Report Date: | 18 October 2011 |
| Pin Summary | |||||||||||||||||||||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
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| Detailed Pin Analysis | |
|---|---|
| Pin 7: SUCCESS  |
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| Pin 1: SUSPECT  |
Pin 2: SUSPECT  |
| Pin 3: SUSPECT  |
Pin 4: SUSPECT  |
| Pin 5: SUSPECT  |
Pin 6: SUSPECT  |
| Pin 8: SUSPECT  |
Pin 9: SUSPECT  |
| Pin 10: SUSPECT  |
Pin 11: SUSPECT  |
| Pin 13: SUSPECT  |
Pin 14: SUSPECT  |
| Pin 12: FAIL  | |
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